Jump to content


ท่านที่สมัครสมาชิกเข้ามาใหม่ กรุณารอให้ Admin ได้ทำการ Validate การเป็นสมาชิก ภายใน 24 ชม.ของวันทำการ ซึ่งระหว่างที่รอ Validation ท่านอาจจะยังไม่สามารถดาวน์โหลดข้อมูลต่างๆ ได้ หากไม่ได้รับความสะดวก กรุณาอีเมลแจ้ง isothainetwork@hotmail.com

Photo

IEC62321:2008


  • This topic is locked This topic is locked
1 reply to this topic

#1 meng39

meng39

    Supreme Member

  • Power Members
  • PipPipPipPip
  • 314 posts
  • Gender:Male
  • Location:บางปู สมุทรปราการ

Posted 13 April 2011 - 10:18 PM

IEC 62321 ครอบคลุมเทคนิคในการวิเคราะห์ปริมาณสารต้องห้าม 6 ชนิด ในวัสดุที่นิยมใช้ ในอุปกรณ์ไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ มาตรฐานนี้ เน้นประเด็นสำคัญ ที่ส่งผลกระทบต่อคุณภาพของผลทดสอบ เริ่มตั้งแต่ ความสม่ำเสมอของวัสดุตัวอย่าง (Samples) ขั้นตอนการเตรียมตัวอย่างทางกล การป้องกันการปนเปื้อน การสูญหาย และการสลายตัวของสารที่ต้องการวิเคราะห์ (Analyte) การรบกวนกันของสารที่มีอยู่ในเนื้อวัสดุ (Matrix) การยืนยันและควบคุมคุณภาพของการเตรียมตัวอย่าง การเตรียม-การตรวจสอบความพร้อม/สมรรถนะของเครื่องมือวิเคราะห์ การแปลผล การตรวจสอบความถูกต้องของผลทดสอบ และการควบคุมคุณภาพ หากพิจารณารูปแบบของสารเคมีที่เป็นสารต้องห้ามในปัจจุบัน จะสามารถแบ่ง เทคนิคการวิเคราะห์ออกเป็น 3 กลุ่มใหญ่คือ 1) การวิเคราะห์สารต้องห้ามในรูปธาตุ (Elemental Analysis) เช่น ตะกั่ว ปรอท แคดเมียม โครเมียม โบรมีน เป็นต้น 2) การวิเคราะห์สารต้องห้ามในรูปโมเลกุลของสารประกอบอินทรีย์ (Organic Compounds) ได้แก่การวิเคราะห์ PBB และ PBDE และ 3) การวิเคราะห์ปริมาณโครเมียมเฮกซะวาเลนซ์ (Cr(VI)) มาตรฐาน IEC 62321 มีเนื้อหาครอบคลุมการวิเคราะห์สารต้องห้ามทั้ง 3 กลุ่ม โดยเน้น เทคนิคการประเมินวัสดุ ที่มีส่วนผสมของสารเหล่านี้ ในระดับต่ำกว่า 0.1% (0.01% กรณีแคดเมียม) หรือในระดับสารปนเปื้อน (Trace Analysis) โดยเทคนิคการวิเคราะห์ที่ระบุใน IEC 62321 สามารถจำแนกได้เป็น 2 ลักษณะตามวัตถุประสงค์ของการทดสอบ คือ การวิเคราะห์อย่างหยาบ (Screening Tests) และการวิเคราะห์อย่างละเอียด (Verification Tests).
****ตามไฟล์แนบ.

Attached Files


The customer isn't king. It's our employees in king.


#2 Gentle

Gentle

    Hornor Member

  • Super Power Members
  • PipPipPipPipPip
  • 556 posts

Posted 14 April 2011 - 09:02 AM

QUOTE(meng39 @ Apr 13 2011, 10:18 PM) <{POST_SNAPBACK}>
IEC 62321 ครอบคลุมเทคนิคในการวิเคราะห์ปริมาณสารต้องห้าม 6 ชนิด ในวัสดุที่นิยมใช้ ในอุปกรณ์ไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ มาตรฐานนี้ เน้นประเด็นสำคัญ ที่ส่งผลกระทบต่อคุณภาพของผลทดสอบ เริ่มตั้งแต่ ความสม่ำเสมอของวัสดุตัวอย่าง (Samples) ขั้นตอนการเตรียมตัวอย่างทางกล การป้องกันการปนเปื้อน การสูญหาย และการสลายตัวของสารที่ต้องการวิเคราะห์ (Analyte) การรบกวนกันของสารที่มีอยู่ในเนื้อวัสดุ (Matrix) การยืนยันและควบคุมคุณภาพของการเตรียมตัวอย่าง การเตรียม-การตรวจสอบความพร้อม/สมรรถนะของเครื่องมือวิเคราะห์ การแปลผล การตรวจสอบความถูกต้องของผลทดสอบ และการควบคุมคุณภาพ หากพิจารณารูปแบบของสารเคมีที่เป็นสารต้องห้ามในปัจจุบัน จะสามารถแบ่ง เทคนิคการวิเคราะห์ออกเป็น 3 กลุ่มใหญ่คือ 1) การวิเคราะห์สารต้องห้ามในรูปธาตุ (Elemental Analysis) เช่น ตะกั่ว ปรอท แคดเมียม โครเมียม โบรมีน เป็นต้น 2) การวิเคราะห์สารต้องห้ามในรูปโมเลกุลของสารประกอบอินทรีย์ (Organic Compounds) ได้แก่การวิเคราะห์ PBB และ PBDE และ 3) การวิเคราะห์ปริมาณโครเมียมเฮกซะวาเลนซ์ (Cr(VI)) มาตรฐาน IEC 62321 มีเนื้อหาครอบคลุมการวิเคราะห์สารต้องห้ามทั้ง 3 กลุ่ม โดยเน้น เทคนิคการประเมินวัสดุ ที่มีส่วนผสมของสารเหล่านี้ ในระดับต่ำกว่า 0.1% (0.01% กรณีแคดเมียม) หรือในระดับสารปนเปื้อน (Trace Analysis) โดยเทคนิคการวิเคราะห์ที่ระบุใน IEC 62321 สามารถจำแนกได้เป็น 2 ลักษณะตามวัตถุประสงค์ของการทดสอบ คือ การวิเคราะห์อย่างหยาบ (Screening Tests) และการวิเคราะห์อย่างละเอียด (Verification Tests).
****ตามไฟล์แนบ.


ขอรับคนแรกเลยครับ อธิบายละเอียดยิบเลย ขอบคุณครับ




1 user(s) are reading this topic

0 members, 1 guests, 0 anonymous users